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AFM原位加熱截面測試夾具

PR-AFM-TSA

★★★★★

市場價：詳詢

本產品為可更換配件夾具，具有多種功能：

原位加熱截面測試：可以實現在AFM下對樣品原位加熱并同時做截面AFM分析，可同時對樣品截面的原位的光學和電學激勵和測量；

接受定制，請掃描下方二維碼咨詢。

咨詢

隨著時代的進步，消費電子設備逐漸向輕薄化發展，柔性電子器件，例如柔性太陽能電池、柔性鋰電池、柔性傳感器和柔性顯示器，陸續開始出現在人們的生活中。構成這些器件的柔性電子材料在使用過程中會隨著使用過程中器件發熱或環境溫度的改變，材料表面和內部的物理狀態都會發生變化，從而影響材料的電學性能。

AFM一直以來是表征材料表面電學性能的有力工具，為了更直接的研究材料在溫度變化時的電學性能變化，需要在保持觀測區域固定的情況下，對樣品進行可以控制的溫度變化，進而研究溫度對材料性能的直接影響。本產品可以實現在溫度可控范圍內對樣品實施AFM掃描測試分析。

適用AFM系統

牛津儀器 Asylum Research MFP-3D 系統

主要功能特點介紹

超薄尺寸: 總厚度僅為21.7mm，適用于AR MFP-3D AFM系統樣品區狹小空間。

樣品尺寸: 樣品由單個夾片靠側面夾持固定。長度 ≤ 20 mm, 寬度 ≤ 10 mm 厚度≥ 0.1mm即可。

溫度控制范圍: 室溫~250 °C；精度：0.2 °C。

容易清潔：樣品臺僅需用酒精擦拭即可，但不能浸入水中。

結構穩定：全鋁合金結構，外表噴砂氧化，不易變形，底部設有強力磁鐵，可吸附于樣品臺。

產品宣傳冊下載（English version）

AFM原位加熱測試夾具用戶手冊

至今，已經有很多國內外科研單位和高新科技企業（包括山西大學、南方科技大學、清華大學、北京理工大學、國家納米科學中心、蘇州大學、陜西師范大學、深圳先進技術研究院、華南師范大學等）使用本公司的AFM測試夾具對樣品實施原位拉伸、彎曲、擠壓、加熱等操作來獲得原位測試數據，并成功在國際高水平雜志期刊上發表文章（包括Ceramics International, Small Methods等）。

使用本公司AFM測試夾具所發表的部分論文列表：

	論文詳情	合作單位
	1. Yongming Fu, Lixia Guo, Zeqian Ren, Xiu Li, Qiwei Zhang, Jizhou Wu, Yuqing Li, Wenliang Liu, Peng Li, Jie Ma, Jing Hu. Enhanced property of flexible UV photodetectors based on electrospinning ZnO–SnO2 heterojunction nanofibers by the formation of Zn2SnO4. Ceramics International 49 (2023) 11402–11410. doi: 10.1016/j.ceramint.2022.11.339	山西大學
	2. Kaixin Liu, Fengyuan Zhang, Zhigang Liu, Chunlin Song, Lingyu Zhang, Wenjie Ming, Lingyu Yang, Yao Wang, Boyuan Huang, Jiangyu Li. Increased Deep Trap Density in Interfacial Engineered Nanocomposite Revealed by Sequential Kelvin Probe Force Microscopy for High Dielectric Energy Storage. Small Methods 2024, 2301755. doi: 10.1002/smtd.202301755	南方科技大學