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AFM原位旋轉(zhuǎn)測(cè)試夾具

PR-AFM-RM

★★★★★

市場(chǎng)價(jià)：詳詢

本產(chǎn)品為可更換配件夾具，具有多種功能：

原位旋轉(zhuǎn)樣品：樣品上任意一點(diǎn)都可通過(guò)調(diào)至旋轉(zhuǎn)臺(tái)軸心，從而可以方便進(jìn)行面內(nèi)原位多角度掃描。

接受定制，請(qǐng)掃描下方二維碼咨詢。

咨詢

AFM一直以來(lái)是表征材料表面特征的有力工具，在各向異性功能材料的AFM表征中經(jīng)常會(huì)涉及到原位旋轉(zhuǎn)樣品的操作，旋轉(zhuǎn)樣品后往往會(huì)涉及到需要重新定位掃描微區(qū)，十分費(fèi)時(shí)費(fèi)力。

針對(duì)此需求，普瑞材料設(shè)計(jì)了一款新型AFM樣品旋轉(zhuǎn)臺(tái)，可以將樣品上任意微區(qū)先移動(dòng)至旋轉(zhuǎn)軸心，進(jìn)而大大縮減旋轉(zhuǎn)后重新定位的工作量。

適用AFM系統(tǒng)

牛津儀器 Asylum Research MFP-3D 系統(tǒng)

主要功能特點(diǎn)介紹

尺寸: 總厚度僅為40mm；原始AR MFP-3D AFM系統(tǒng)樣品區(qū)高度空間狹小的解決辦法：可針對(duì)掃描儀增加增高腿使該夾具適用。

可變軸心設(shè)計(jì): 樣品臺(tái)采用底部旋轉(zhuǎn)，頂部XY面內(nèi)定位設(shè)計(jì)。

優(yōu)點(diǎn): 樣品上任意一點(diǎn)都可通過(guò)調(diào)至旋轉(zhuǎn)臺(tái)軸心，從而可以方便進(jìn)行面內(nèi)原位多角度掃描。

結(jié)構(gòu)穩(wěn)定：全鋁合金結(jié)構(gòu)，外表噴砂氧化，不易變形，底部設(shè)有強(qiáng)力磁鐵，可吸附于樣品臺(tái)。

產(chǎn)品詳情：

外圍尺寸: 83×71.8×40（高）mm，底座尺寸：83×55 mm ；

XY臺(tái)調(diào)節(jié)：行程距離 10mm，最小螺距：0.5mm；

旋轉(zhuǎn)臺(tái)：最大旋轉(zhuǎn)角度：360°，游標(biāo)卡尺測(cè)量旋轉(zhuǎn)角度：主標(biāo)尺最小刻度2°，游標(biāo)最小讀書(shū)精度：(1/6)°。

產(chǎn)品宣傳冊(cè)下載（待上傳）（English version）

AFM原位加熱測(cè)試夾具用戶手冊(cè) （待上傳）

至今，已經(jīng)有很多國(guó)內(nèi)外科研單位和高新科技企業(yè)（包括山西大學(xué)、南方科技大學(xué)、清華大學(xué)、北京理工大學(xué)、國(guó)家納米科學(xué)中心、蘇州大學(xué)、陜西師范大學(xué)、深圳先進(jìn)技術(shù)研究院、華南師范大學(xué)等）使用本公司的AFM測(cè)試夾具對(duì)樣品實(shí)施原位拉伸、彎曲、擠壓、加熱等操作來(lái)獲得原位測(cè)試數(shù)據(jù)，并成功在國(guó)際高水平雜志期刊上發(fā)表文章（包括Ceramics International, Small Methods等）。

使用本公司AFM測(cè)試夾具所發(fā)表的部分論文列表：

	論文詳情	合作單位
	1. Yongming Fu, Lixia Guo, Zeqian Ren, Xiu Li, Qiwei Zhang, Jizhou Wu, Yuqing Li, Wenliang Liu, Peng Li, Jie Ma, Jing Hu. Enhanced property of flexible UV photodetectors based on electrospinning ZnO–SnO2 heterojunction nanofibers by the formation of Zn2SnO4. Ceramics International 49 (2023) 11402–11410. doi: 10.1016/j.ceramint.2022.11.339	山西大學(xué)
	2. Kaixin Liu, Fengyuan Zhang, Zhigang Liu, Chunlin Song, Lingyu Zhang, Wenjie Ming, Lingyu Yang, Yao Wang, Boyuan Huang, Jiangyu Li. Increased Deep Trap Density in Interfacial Engineered Nanocomposite Revealed by Sequential Kelvin Probe Force Microscopy for High Dielectric Energy Storage. Small Methods 2024, 2301755. doi: 10.1002/smtd.202301755	南方科技大學(xué)